FLIR A6451 MWIR
MWIR-Hochgeschwindigkeitskamera für präzise thermische Analysen schneller Prozesse und zerstörungsfreie Prüfungen
Die FLIR A6451 Wärmebildkamera ist eine gekühlte MWIR-Kamera für Forschung und industrielle Anwendungen. Mit 640 × 512 Pixeln, hoher Bildrate und integrierter Systemintegration eignet sie sich für präzise Analysen dynamischer thermischer Prozesse.
- Gekühlter HOT MWIR-Detektor (SLS) für hohe Sensitivität (~25 mK)
- 640 × 512 Pixel für präzise thermische Analysen
- Bildfrequenz bis 125 Hz im Vollbild
- Snapshot-Technologie für verzerrungsfreie High-Speed-Aufnahmen
- Integrationszeiten bis in den Nanosekundenbereich
- Flexible Teilbildmodi für höhere Bildraten
- GigE Vision und GenICam für einfache Systemintegration
- Speicherung mehrerer Kalibrierungen direkt auf der Kamera
Wie können wir helfen?
Fragen zum Produkt oder einer Funktionsweise? Unsere Experten helfen Ihnen weiter.
- Expertenberatung
- Hohe Kundenzufriedenheit
- Support nach Kauf
Technische Daten
| IR-Auflösung | |
|---|---|
| Detektortyp | HOT MWIR (SLS, gekühlt) |
| Spektralbereich | 3,0 – 5,0 µm |
| NETD / Temperaturauflösung | |
| Bildfrequenz | |
| Dynamikbereich | 14-bit |
| Integrationszeit | ab 480 ns |
| Temperaturmessbereich | |
| Messgenauigkeit | ±2 % vom Messwert |
| Schnittstellen | |
| Fokus | Motorfokus |
| Optik | Manuell (3-5 μm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm, 50 mm Makro |
Produktbeschreibung
Die FLIR A6451 Wärmebildkamera gehört zur A64xx-Serie und wurde für Anwendungen entwickelt, bei denen hohe Bildraten, präzise Temperaturmessungen und maximale Systemintegration erforderlich sind. Der gekühlte HOT MWIR-Detektor auf SLS-Basis arbeitet im Spektralbereich von 3,0 bis 5,0 µm und liefert eine hohe Sensitivität sowie stabile Messergebnisse.
Mit einer Auflösung von 640 × 512 Pixeln und einer thermischen Empfindlichkeit von typischerweise etwa 25 mK lassen sich selbst kleinste Temperaturunterschiede zuverlässig erfassen. Die programmierbare Bildfrequenz von bis zu 125 Hz im Vollbild sowie flexible Teilbildmodi ermöglichen die Analyse hochdynamischer Prozesse.
Die Snapshot-Auslesetechnologie sorgt dafür, dass alle Pixel gleichzeitig erfasst werden. Dadurch entstehen verzerrungsfreie Bilder, selbst bei sehr schnellen thermischen Ereignissen oder bewegten Objekten. Integrationszeiten bis in den Nanosekundenbereich ermöglichen zusätzlich eine präzise Analyse schneller Vorgänge.
Ein besonderer Vorteil der FLIR A6451 ist die hohe Integrationsfähigkeit. Über GigE Vision und GenICam lässt sich die Kamera problemlos in bestehende Prüf- und Messsysteme integrieren. Zusätzlich stehen Schnittstellen wie RS-232 und SDI für Steuerung und Videoausgabe zur Verfügung.
Durch das flexible Optiksystem mit verschiedenen Brennweiten sowie optionalen Makro- und Mikroskoplösungen kann die Kamera exakt an unterschiedliche Messaufgaben angepasst werden. Die Möglichkeit, mehrere Kalibrierungen direkt auf der Kamera zu speichern, erhöht die Flexibilität bei wechselnden Anwendungen erheblich.
Typische Einsatzbereiche sind zerstörungsfreie Prüfungen, Batterieanalysen, Materialtests sowie industrielle Qualitätskontrollen und automatisierte Prüfprozesse.
Produkt Features
FLIR Research Studio
Ermöglicht präzise thermische Analysen und Datenauswertung für Forschung, Entwicklung und anspruchsvolle Messaufgaben.
FLIR High-Precision Measurement
Ermöglicht reproduzierbare und zuverlässige Temperaturmessungen für Forschung und Entwicklung.
FLIR Radiometric Data Capture
Erfasst vollständige Temperaturdaten pro Pixel für detaillierte wissenschaftliche Auswertung.
FLIR MWIR Imaging
Wärmebildtechnik im mittleren Infrarotbereich (ca. 3–5 µm) für präzise Messungen bei hohen Temperaturen und dynamischen Prozessen.
Produktvideo
Dokumentation
Exportbeschränkungen
Die auf dieser Seite enthaltenen Informationen beziehen sich auf Produkte, die den International Traffic in Arms Regulations (ITAR) (22 C.F.R. Sections 120-130) oder den Export Administration Regulations (EAR) (15 C.F.R. Sections 730-774) unterliegen können, je nach Spezifikationen für das Endprodukt; Gerichtsbarkeit und Klassifizierung werden auf Anfrage bereitgestellt.